仪器名称：场发射扫描电镜
仪器型号：ZEISS Gemini SEM 300
仪器简介：
适用于各种样品（金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子和复合材料等）的微观形貌观察、微结构测定。对于不导电样品，特别是氧化物纳米材料和半导体样品，可直接在超低电压下进行高分辨率观察）。该设备不仅在化学化工及环境科学与工程、材料、冶金和电子等众多领域应用广泛，在生物学、医学、农学、食品科学、物理学和地质等学科领域亦有十分广阔的应用前景。
注意事项：
送检样品为干燥的块状、片状、纤维状及粉末状的固体。应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；无磁性、放射性和腐蚀性。
